马波斯光谱共焦传感器可在线测量锂离子电池的电极极片。锂离子电池的生产采用R2R工艺,其重点在于在线质量测量,用马波斯光谱共焦传感器可以以非接触测量的方式测量涂布层厚度、极片边缘厚度以及控制极片轮廓并检查极片上的涂布层缺陷。从特征的角度来看,实际上马波斯光谱共焦传感器可测量柔性非透明材料,同时测量大于5微米的薄膜层厚度。这就说明马波斯光谱共焦传感器一定程度上保证了高灵敏度和高精度,是一款真正的同步在线方案测量。内圆磨床在线测量仪系统购买,请联系马波斯测量科技。上海 内圆磨床在线测量仪品牌

P7是一个多功能装置,在模块化尺寸的单一结构中,可以管理驱动磨削过程所需的主要控制功能:过程中和过程后的测量、砂轮的平衡、冲击轮/工件、砂轮/金刚石或意外冲击引起的噪声分析,控制工作环境温度或工件或特定的机械零件,进行变形分析,评估作用力,控制所有变量,确保机器正常运行。P7多功能性的一个特点是与机器控制单元接口的均匀性。 装置的控制功能始终有相同类型的接口和相同的规则:物理I/O、现场总线、以太网。显示器有一个单独的接口,可以是配套显示器,也可以是安装在PC机上的程序。该装置还有一个功能提供了详细信息,说明如何改进所监测的各种参数,以允许终端用户认证生产并监测机器本身的使用寿命。上海精密测量仪安装马波斯marposs测量仪对于磨床上的尺寸控制,P3ME电子单元,一种精确、可靠、经济与紧凑的解决方案。

马波斯的非接触式激光尺寸测量技术值得信赖。激光测量仪已被应用于机械行业的大量生产工艺,包括导线、电缆和光纤生产以及塑料挤出成形等其它工业领域。国际空间站(ISS)上所配的激光测量仪可测量直低至为30微米(千分之三十毫米)的被测物体,测量重复精度(精度)可达30纳米,在特殊环境中中可确保光纤生产达到更高质量标准。其中Aeroel是集团中提供精密激光测量仪的一个产品线。其激光测量仪成功入选并整合在国际空间站(ISS)的全自动光纤产线上
Marposs无线手柄利用蓝牙无线技术克服了手动测量仪器中的电缆管理问题。该信号从电子或机械测量仪表头发送到Marposs数据显示和处理单元之一。坚固可靠的I-Wave手柄,即使在**恶劣的环境下,也可用于操作员的手动测量。所有螺纹为M10、M6或M3.5的测头都可以用适配器轻松安装。星形锁系统进一步增加了手柄的多功能性,该系统允许快速更换仪表头,以实现测头互换性。多波手柄采用蓝牙技术,管理用于同时测量多个截面的多传感器电子测头,检查不同高度的孔的直径和其他几何形状(椭圆度、锥度等)。它可以编程使用的传感器数量(**多7个)或设置其他重要参数与特定的软件。一旦定义了配置参数,它们就会通过蓝牙发送到手柄,然后保存在内存中。所有手柄都可以通过蓝牙将测量数据传输到一个Marposs电子设备,如Nemo、Merlin、MerlinPlus、E9066或10米范围内的任何PC。图形选项有各种级别,从简单的状态或数字或条形图到时间图、直方图和图形。

在非接触式对刀仪应用领域中,可视化对刀仪是一个允许在机械加工中心和/或每个尺寸的铣床上测量刀具的系统。集成微型照相机能够获取数张不同角度位置的刀具图像,甚至可以为小于一毫米的**小刀具提供非常准确的长度值与直径值。从测量速度角度来看,可视化对刀仪之所以能够快速作业,是因为它拥有优化的软件以及让刀具保持转动。它的接口使得系统能够程控并适应各种不同的操作条件。VTS可视化对刀仪是一个可实现复杂测量应用的系统,这些应用涉及到:刀具形状与尺寸检测刀具破损检测未知刀具的刀具预先设置尺寸、直径以及诸如TIR、刀具半径以及带有旋转刀具的刀具中心坐标的其它测量刀具磨损补偿以及单个刀具轮廓与表面的完整性检查机床中心线热漂移补偿检查微型精密加工与磨具生产中涉及到的小直径与不同形状的微型刀具可快速测量,尤其是对诸如车削的静态刀具进行快速测量,或者在带有索引位置的多切削刀具中进行快速测量.磨床测量仪系统,请联系马波斯测量科技。上海机床在线检测测量仪安装
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统计过程控制规定了三个活动阶段:了解过程:必须在其行为中识别过程,并且必须明确规定每个受控特征的规格界限。可变性的特殊原因必须消除,以使过程稳定。使用控制图监控生产过程:这些图表用于及时检测受控特征的均值或方差的变化。控制图的目的是识别始终存在的可变性的常见原因,并将其与特殊原因区分开来。统计过程控制的目标不是检查零件是否良好,而是预测并防止生产出有缺陷的零件。为此,可将控制图作为预测工具,并确定可能导致生产出有缺陷的零件的原因。一旦控制图表示存在不稳定的过程(SPC警报),就必须采取措施控制生产,从而限制了部件不合格和生产线的减速。当控制图没有发出任何警报信号时,该过程可被视为“稳定”或“受控制”;其“过程能力”可以通过“能力研究”进行计算。过程能力是一种用来计算过程在未来指定限制时间内生产零件的能力的指数。**初的Shewart理论基于过程,其特征*由一种正态分布进行描述。随着时间的推移,统计过程控制的能力得到了改进,能够(使用Pearson控制图)分析不同分布描述的连续特征,(使用P控制图和NP控制图)分析离散特征,以及(使用C控制图)和U控制图)分析具有多个缺陷的离散特征。上海 内圆磨床在线测量仪品牌
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